PLATEFORME

Centre de compétences en Microscopies, Microsondes et Métallographie (CC3M)

Caractériser vos matériaux à différentes échelles par microscopies électroniques MEB, MET, microsonde de Castaing, SIMS

Le CC3M met à la disposition de la communauté scientifique du Grand-Est des outils de caractérisation des matériaux par différentes techniques de microscopies électroniques et de microanalyses (MET, MEB, microsonde de Castaing et SIMS).

Laboratoire : Institut Jean Lamour, Nancy, Meurthe-et-Moselle
Responsable scientifique : Jaafar Ghanbaja

couches minces

matériaux

nanomatériaux

nanoprécipités

imagerie électronique

Services / partenariats / applications

  • Comprendre la structure fine de vos matériaux
  • Caractériser des nanoprécipités (MET) et les différentes phases dans tous types de matériaux par imagerie électronique (MET/MEB) et diffraction électronique (microdiffraction, EBSD, ASTAR).
  • Identifier des éléments chimiques et leurs répartitions par EDX, EELS, WDS et SIMS
  • Réaliser des cartographies d’orientations et de phases par EBSD (MEB), ASTAR (MET

Partenariats possibles

  • Prestations de services
  • Études
  • Partenariats industriels

Équipement principaux

  • 2 microscopes électroniques en transmission (MET) haute résolution source FEG (Jeol)
  • 1 microscope électronique en transmission conventionnel (FEI)
  • 1 microscope électronique à balayage avec faisceau d’ions focalisé (FIB : Focused Ion Beam) (FEI)
  • 2 microscopes électroniques à balayage (MEB) source FEG (ZEISS, FEI)
  • 1 microsonde de Castaing source FEG (JEOL)
  • 1 Spectromètre de Masse d’Ions Secondaires (SIMS) (CAMECA)
  • 1 service de métallographie pour préparer les échantillons (découpe, enrobage, polissage, amincissement…)

Succès technologiques

  • Analyse structurale et microstructurale de couches minces bifonctionnelles TiO2/Al-Zr déposées par procédé hybride
  • Croissance épitaxiale de couches minces Sc0.09Al0.91N et Sc0.18Al0.82N sur des substrats de saphir par pulvérisation magnétron pour des applications d’ondes acoustiques de surface
  • Toxicité des nanoparticules de TiO2 : validation de modèles alternatifs
  • Croissance épitaxiale et structure des couches minces LaVO3 et PrVO3