PLATEFORME

Plateforme Sondes ioniques

Analyse élémentaire et/ou isotopique ‘in-situ’ de matériaux solides à l’échelle micrométrique.

Les techniques LG-SIMS (Large Geometry Secondary Ion Mass Spectrometry) permettent une analyse quasi non-destructive (spots de l’ordre de quelques mm et d’une profondeur très inférieure au mm) avec une précision de l’ordre de 0,1‰ pour les mesures isotopiques sur éléments majeurs (O, C, S, N, Si, Fe…)

Laboratoire : CRPG, Vandoeuvre-lès-Nancy, Meurthe-et-Moselle

Responsable scientifique : Laurette Piani, Johan Villeneuve

Financement : INSU CNRS, ANR, FEDER, ERC, CPER, Région, Labex Ressources 21, Idex Planex, OTELo, Carnot Icéel

Analyse élémentaire

Isotopie

Analyse ‘in-situ’

Échelle micrométrique

Grande précision

Services / partenariats / applications

Datations U-Th-Pb, Mn-Cr, Rb-Sr, K-Ca de matériaux géologiques
Mesures des teneurs en éléments volatils, Terres Rares et éléments en traces
Profils en profondeur des concentrations élémentaires.
Analyses de verres de stockage

Partenariats possibles

Tout développement R&D compatible avec la technique LG-SIMS

Équipement principaux

Sonde ionique CAMECA IMS 1270 E7
Sonde ionique CAMECA 1280 HR2
MEB JEOL 6516
Salle de préparation d’échantillons (microscopes, dispositifs d’abrasion, polisseuses, bancs de métallisation)

Succès technologiques

Datation de la formation des tout premiers corps solides du système solaire grâce à la mesure de la radioactivité éteinte de l’Al
Analyses du vent solaire ramené par la mission GENESIS de la NASA.
Analyses des échantillons d’astéroïdes (Itokawa et Ryugu) ramenés par les missions HAYABUSA 1 & 2 de la JAXA (agence spatiale japonaise).
Analyse du vent solaire sur la périphérie de grains de sols lunaires ramenés par les missions APOLLO de la NASA.
Détermination de l’origine de l’eau terrestre