PLATEFORME

Plateforme Sondes ioniques LG-SIMS Nancy

Analyse élémentaire et/ou isotopique ‘in-situ’ de matériaux solides à l’échelle micrométrique.

Les techniques LG-SIMS (Large Geometry Secondary Ion Mass Spectrometry) permettent une analyse quasi non-destructive (spots de l’ordre de quelques µm  et d’une profondeur très inférieure au µm) avec une précision de l’ordre de 0,1‰ pour les mesures isotopiques sur éléments majeurs (O, C, S, N, Si, Fe…)

Sondes ioniques LG-SIMS-Nancy

 

Laboratoire : CRPG, Vandoeuvre-lès-Nancy, Meurthe-et-Moselle
Responsable scientifique : Laurette Piani
Financement : INSU CNRS, ANR, FEDER, ERC, CPER, Région, Labex Ressources 21, Idex Planex, OTELo, Carnot Icéel, RéGEF

Analyse élémentaire

Isotopie

Analyse ‘in-situ’

Échelle micrométrique

Grande précision

Services / partenariats / applications

  • Datations U-Th-Pb, Mn-Cr, Rb-Sr, K-Ca de matériaux géologiques
  • Mesures des teneurs en éléments volatils, Terres Rares et éléments en traces
  • Profils en profondeur des concentrations élémentaires.
  • Analyses de verres de stockage

Partenariats possibles

Tout développement R&D compatible avec la technique LG-SIMS

Équipement principaux

  • Sonde ionique CAMECA IMS 1270 E7
  • IMS 1280 HR2
  • Sonde ionique CAMECA 1280 HR2
  • Salle de préparation d’échantillons (microscopes, dispositifs d’abrasion, polisseuses, bancs de métallisation)

Succès technologiques

  • Datation de la formation des tout premiers corps solides du système solaire grâce à la mesure de la radioactivité éteinte de l’Al
  • Analyses du vent solaire ramené par la mission GENESIS de la NASA.
  • Analyses des échantillons d’astéroïdes (Ryugu et Bennu) ramenés par les missions HAYABUSA 2 de la JAXA (agence spatiale japonaise) et OSIRIS-REx de la NASA.
  • Analyse du vent solaire sur la périphérie de grains de sols lunaires ramenés par les missions APOLLO de la NASA.
  • Détermination de l’origine de l’eau terrestre