PLATEFORME
Service Commun de Microscopie Électronique et de Microanalyse X
Observer aux forts grandissements en 2D & 3D, fournir des analyses chimiques non destructives des solides
Le Service Commun de Microscopie Électronique et de Microanalyses X appuie la recherche en fournissant les moyens matériels et humains nécessaires à l’observation et la caractérisation d’échantillons solides aux forts grandissements. Les équipements permettent de produire des images 2D de topographie, de contraste chimique, de répartition chimique ainsi que des images 3D de la morphologie interne des échantillons.
L’imagerie est complétée par des analyses quantitatives de points, transects et surfaces.
Laboratoire : GeoRessources, Vandoeuvre-lès-Nancy, Meurthe-et-Moselle
Responsable scientifique : Jean Cauzid
Analyse chimique élémentaire
Imageries
MEB
Microsonde
Microanalyses
Services / partenariats / applications
- Imageries sur de grandes surfaces (cm²)
- Analyses chimiques élémentaires et cartographies chimiques
- Observation d’échantillons fragiles, sensibles et/ou isolants
- Observations à pression partielle
Partenariats possibles
- Missions d’étude
- Partenariats de R&D
- Expertise sur devis
- Prestations de service
- Formation
Équipement principaux
- Équipements mi-lourds du parc analytique
- MEB TESCAN Vega3 équipé de détecteurs SE, BSE, EDS et cathodoluminescence
- MEB FEG Hitachi S-4800 équipé de détecteurs SE, BSE, EDS et STEM
- MEB FEG JEOL JSM7600F équipé de détecteurs SE, BSE, EDS et WDS
- Microsonde de Castaing Cameca SX100 équipée de 5 spectromètres WDS
- Microsonde de Castaing Cameca SX5 Tactis
- µXRF Bruker M4 Tornado
- Deux évaporateurs sous vide
Succès technologiques
Domaines d'intervention liés
